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集成电路高温动态老化系统BTI-E3000AT(16通道)

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单温区150℃试验温度,可编辑64路数字信号和4路模拟信号,16通道,选配老化板适配各种封装IC、MCU、模块等

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集成电路高温动态老化系统BTI-E3000ATS(8通道)

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单温区150℃试验温度,可编辑64路数字信号和4路模拟信号,8通道,选配老化板适配各种封装IC、MCU、模块等

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集成电路高温动态老化系统BTI-E3000ATL(32通道)

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单温区150℃试验温度,可编辑64路数字信号和4路模拟信号,32通道,选配老化板适配各种封装IC、MCU、模块等

 

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集成电路高温动态老化系统BTD-E3000ATD(双温区)

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双温区150℃试验温度,可编辑64路数字信号和4路模拟信号,16通道,选配老化板适配各种封装IC、MCU、模块等

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