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高温反偏试验系统BTR-E621(微波器件)

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单温区150℃试验温度,试验电压0~1200V可选,16通道640工位,选配老化板适配各种封装微波器件

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高温栅偏试验系统BTR-E620(高精度HTGB)

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单温区150℃试验温度,试验电压0~100V可选,纳安级检测精度,16通道1024工位,选配老化板适配各种封装晶体管

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高温反偏试验系统BTR-E682 (结温测试型)

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单温区150℃试验温度,试验电压0~1000V可选,实时结温Tj检测,16通道1280工位,选配老化板适配各种封装晶体管

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高温反偏试验系统BTR-E683(高频脉冲)

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单温区150℃试验温度,脉冲试验电压0~2000V可选,16通道720工位,选配老化板适配各种封装高频脉冲器件

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