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分立器件功率循环老化系统/三极管功率循环试验设备E810

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4种试验模式可设置,16个试验腔独立风道散热,试验电压0~150V可选,16通道1280工位,极性自动识别,选配老化板适配各种封装晶体管

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分立器件功率循环老化系统MOSFET间歇/稳态试验BTD-E811

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4种试验模式可设置,16个试验腔独立风道散热,试验电压0~150V可选,16通道1280工位,极性自动识别,选配老化板适配各种封装晶体管

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