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光电子器件老化系统/光电耦合器专用设备(OC)BTD-E830

 

 

         稳态寿命试验(CFOL)       
          功率老炼筛选           


满足各种光电耦合器、发光二极管等元器件

适配各种封装形式(包括SMD表面贴装)

 使用 特点

·实验腔采用横向强迫风冷结构设计,风机调速采用计算机脉宽调制(PWM)系统控制;

·输入端采用程控恒流电子负载,保证“发光二极管”试验电流IF的恒定和一致性;

·输出端采用程控恒流电子负载,保证“光敏三极管”恒流工作;

·预留电源插槽,通过增加电源数量以增加独立试验区域;

·支持器件数据库自动加载老化程序,试验全过程自动修正试验参数,规范轻松完成试验过程;

·试验参数实时监测、记录和控制,确保系统稳定可靠运行;

·支持网络及远程操作,将公司多台产品组网集中控制、管理;

·计算机及系统软件,操作简单实用;数据库管理,支持如Excel等多种文档格式输出和转换;

 

适用 场合

适用于半导体分立器件设计和封测企业,也适用于整机厂所、第三方检测机构 。

 

      

成功案例

   

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售后服务

    

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中安优势

   


 技术参数
参数分类 参数名称 技术指标
试验腔 试验腔配置 风冷却试验环境,水平横向风道设计,2个独立的计算机控制调节的试验温区,均匀带走试验过程种器件产生的热量;
温度检测、记录 具有2-8路温度检测和记录功能,计算机全过程监测记录试验腔温度,描述全过程试验温度曲线,并有超温保护报警装置,确保试验腔温度在设置的安全范围内;
区域容量 试验区域 标配4个;可增加至8个电源独立试验区,可同时试验8种器件;
试验通道 16个;
试验容量 整机老化发光二极管时为1024个(串联时更多);整机老化光电耦合器时,单光耦为896个,双光耦为448个,四光耦为228个(串联时更多);
老化电源 电源配置 输入输出端有0~20V/60A、30V/40A、40V/30A等多种规格程控电源供用户选择;
电源保护功能 试验电源过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能,确保试验电源的可靠性。
电源检测记录 电源输出均计算机在线检测,记录描述全过程试验电压曲线,便于试验监控。
驱动板 配置 16块;
恒流源 每块驱动板特设64路0~200mA恒流源,更好地满足发光二极管等器件的恒流功率老化筛选;
试验电流检测 范围:0.0mA~200.0mA;精度:1%±1LSB
试验电压检测 范围:0.0V~50.0V;精度:1%±1LSB
实时报警 实时记录报警工位,记录失效时间:0~10000小时,便于用户失效分析;
计算机 配置 主流配置工业计算机;
显示器 12.1英寸1024×768点阵TFT彩色液晶显示器;
输入方式 键盘、鼠标、触摸屏输入方式;
软件界面 WindowsXP/Windows7中文菜单界面,操作友好、使用便捷;
数据记录 试验数据以文本、表格(Excel)、曲线等方式保存在硬盘中,供永久记录保存。
老化板 基板 根据用户要求选配,标配基板采用TG170,特殊高温可按要求定制;
老化座 老化座Socket均采用耐高温、抗氧化、耐疲劳材料;
规格尺寸 290mm×460mm
总线接口 100Pin-3.175
使用条件 工作温度 25℃±10℃;
工作湿度 不大于80%;
供电要求 220V±10%;
整机功耗 最大功率小于6KW;
周围环境 无强磁场干扰和有害气体侵蚀。
其他 外形尺寸 W×D×H122×103×190(cm)
重量 400kg
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