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 技术参数
参数分类 参数名称 技术指标
试验箱 配置型号 广州五所或ESPEC PH-201一台,水平横向循环风道设计,温度更均匀,试验腔尺寸60cm×60cm×60cm;
试验温度 试验温度范围:室温~150℃;温度均匀性:125℃±3℃;温度波动度:±0.5℃;
温度保护 除试验箱本身双重超温保护外,设计独立于试验箱的超温保护、报警装置,确保试验温度的绝对安全。
温度记录 计算机全过程监测试验温度,记录描述全过程试验温度曲线,便于试验监控和科学管理。
区域容量 试验区域 标配8个,可同时试验8种器件; 
试验容量 标配2×8=16位(可增至32个);
二级电源 V1 0~48.0V/5A;1%±1LSB(单工位独立)
V2 0~8V/100mA;1%±1LSB(单工位独立)
V3 0~-32.0V/1A;1%±1LSB(单板公用)
V4 0~-8V/100mA;1%±1LSB(单板公用)
壳温控制 检测范围 25℃~150℃;
计算机 配置 主流配置工业计算机;
显示器 12.1英寸1024×768点阵TFT彩色液晶显示器;
输入方式 键盘、鼠标、触摸屏输入方式;
软件界面 WindowsXP/Windows7中文菜单界面,操作友好、使用便捷;
数据记录 试验数据以文本、表格(Excel)、曲线等方式保存在硬盘中,供永久记录保存。
老化夹具 夹具 适配老化夹具,装卸方便,可更换;
使用条件 工作温度 25℃±10℃;
工作湿度 不大于80%;
供电要求 220V±10%;
整机功耗 最大功率小于6KW;
周围环境 无强磁场干扰和有害气体侵蚀。
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产品列表

PRODUCT CENTER

中小功率微波器件/模块高温射频老化系统BTD-E560

中小功率微波器件/模块高温射频老化设备 设备型号:BTD-E560

适用标准:

系统设计和试验线路、方法符合MIL-STD-750D、GJB128试验标准要求。

适用范围:

产品适用于注入信号频率DC~20GHz的中小功率的微波组件/器件(如:TR组件等)的连续波或脉冲信号的的高温射频老化筛选和寿命试验(150℃)。

使用特点:

系统可定制DC~20GHz间各种频段范围内的微波产品的老化需求,并在结构设计上便于用户配置不同的射频注入和输出条件。

由于微波系列设备的通用性有一定的局限性,用户需与我司联系后确定所需设备的配置方案。

 技术参数
参数分类 参数名称 技术指标
试验箱 配置型号 广州五所或ESPEC PH-201一台,水平横向循环风道设计,温度更均匀,试验腔尺寸60cm×60cm×60cm;
试验温度 试验温度范围:室温~150℃;温度均匀性:125℃±3℃;温度波动度:±0.5℃;
温度保护 除试验箱本身双重超温保护外,设计独立于试验箱的超温保护、报警装置,确保试验温度的绝对安全。
温度记录 计算机全过程监测试验温度,记录描述全过程试验温度曲线,便于试验监控和科学管理。
区域容量 试验区域 标配8个,可同时试验8种器件; 
试验容量 标配2×8=16位(可增至32个);
二级电源 V1 0~48.0V/5A;1%±1LSB(单工位独立)
V2 0~8V/100mA;1%±1LSB(单工位独立)
V3 0~-32.0V/1A;1%±1LSB(单板公用)
V4 0~-8V/100mA;1%±1LSB(单板公用)
壳温控制 检测范围 25℃~150℃;
计算机 配置 主流配置工业计算机;
显示器 12.1英寸1024×768点阵TFT彩色液晶显示器;
输入方式 键盘、鼠标、触摸屏输入方式;
软件界面 WindowsXP/Windows7中文菜单界面,操作友好、使用便捷;
数据记录 试验数据以文本、表格(Excel)、曲线等方式保存在硬盘中,供永久记录保存。
老化夹具 夹具 适配老化夹具,装卸方便,可更换;
使用条件 工作温度 25℃±10℃;
工作湿度 不大于80%;
供电要求 220V±10%;
整机功耗 最大功率小于6KW;
周围环境 无强磁场干扰和有害气体侵蚀。
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