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分立器件功率循环老化系统/三极管功率循环试验设备E810

 

 

 

 稳态寿命试验CFOL 
 间歇(热疲劳IFOL)寿命试验  
 功率老炼筛选  

满足中、小功率三极管

适配各种封装形式(包括SMD表面贴装)

使用 特点

·独立试验抽屉,风冷却系统完全独立,相互不受影响; 

·被试器件DUT老化电源采用智能程控方式供给,ON/OFF自动控制; 

·被试器件DUT试验线路按标准设计,不同型号可设置试验耗散功率电压、电流和功率; 

·支持器件数据库自动加载老化程序,试验全过程自动修正试验参数,规范轻松完成试验过程; 

·试验参数实时监测、记录和控制,确保系统稳定可靠运行; 

·老化板设计采用半导体厂流行的子母板设计,增强了母板的通用性和子板的灵活性,降低使用成本; 

·选配公司生产的热阻K系数测试系统,确保试验更精准; 

·计算机及系统软件,操作简单实用;数据库管理,支持如Excel等多种文档格式输出和转换;

·支持网络及远程操作,将公司多台产品组网集中控制、管理; 

·每个试验单元提供一个样管Tj结温测试,测试被试器件DUT的加热Tj1、冷却Tj2和ΔTj,确保功率循环试验条件; 

 

适用 场合

适合于半导体设计和封测企业,尤其是汽车电子行业,进行分立器件可靠性试验

 

      

成功案例

   

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售后服务

    

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中安优势

   


 技术参数
参数分类 参数名称 技术指标
试验腔 试验腔 试验腔抽屉式独立设计,通道完全独立,风冷却系统完全独立,试验相互不受干扰;
冷却方式 水平风冷却风道设计,最大限度地确保冷却的一致性;
插板结构 老化板采用插板式结构,方便加载器件和上机操作;
区域容量 试验区域 16个;
试验通道 16个,单通道80工位,适合一般77颗抽样数量;
试验容量 80×16=1280位;
老化电源 电源配置 VB:0~15V/80A;VC:0~60V/20A、100V/12A、150V/8A等多种规格高可靠数码程控电源供用户选择;
增强配置 可选配进口Agilent、EA、TDK-Lambda电源;
电源保护功能 试验电源过压、欠压、过流、短路和过热等保护功能,确保试验电源的可靠性。
电源检测记录 电源输出均计算机在线检测,记录描述全过程试验电压曲线,便于试验监控。
试验模式 极性、模式控制 每个试验通道配置一个计算机控制的极性转换、ON/OFF控制装置,实现极性自动转换和器件ON/OFF试验状态控制。
稳态模式 设置范围:1H~9999H
定时循环模式 设置范围:ON:1S~9999S;OFF:1S~9999S
Tj结温循环模式 设置范围:Tj1:50~175℃;Tj2:20~75℃;
循环次数设定 设置范围:1~999999次(100万次)
驱动板 配置 16块;
Tj结温测试 范围:20℃~200℃;精度:1%±1LSB
试验电流检测 范围:0.0mA~10.00A;精度:1%±1LSB
试验电压检测 范围:0.0V~199.9V;精度:1%±1LSB
实时报警 实时记录报警工位,记录失效时间:0~10000小时,便于用户失效分析;
计算机 配置 主流配置工业计算机;
显示器 12.1英寸1024×768点阵TFT彩色液晶显示器;
输入方式 键盘、鼠标、触摸屏输入方式;
软件界面 WindowsXP/Windows7中文菜单界面,操作友好、使用便捷;
数据记录 试验数据以文本、表格(Excel)、曲线等方式保存在硬盘中,供永久记录保存;
老化板 设计 老化板设计采用半导体厂流行的子母板设计,增强了母板的通用性和子板的灵活性,降低使用成本;
母板 采用插板式结构,16PCSx30pin(3.96mm)子板接口,器件加载和上机操作灵活方便;
子板 采用30pin(3.96mm)金手指设计,提供SMT解决方案;
规格尺寸 290mm×460mm
总线接口 100Pin-3.175
使用条件 工作温度 25℃±10℃;
工作湿度 不大于80%;
供电要求 220V±10%;
整机功耗 最大功率小于6KW;
周围环境 无强磁场干扰和有害气体侵蚀。
其他 外形尺寸 W×D×H140×120×190(cm)
重量 500kg
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